Kaleo MultiWave 是一(yī)台多(duō)波(bō)長工作(zuò)的光學(xué)元件麵形測試係統，用(yòng)於(yú)替(tì)代昂貴，低效(xiào)，操作復雜(zá)的(dí)幹(gān)涉(shè)儀，測量(liáng)光(guāng)學(xué)元件的(dí)表麵麵(miàn)形，透(tòu)過波差等(děng)參(cān)數。

Kaleo MultiWave 通過(guò)單次測(cè)量(liáng)即可(kě)提供完(wán)整的3-D形貌及(jí)非平(píng)麵元件的曲率。所有表(biǎo)麵質量參(cān)數尊(zūn)崇(chóng)ISO 10110標(biāo)準(zhǔn)。表(biǎo)麵不規則，粗(cū)糙度(dù)以(yǐ)及波紋亦可(kě)測(cè)試。

Kaleo MultiWave*的多(duō)波長測(cè)試功能(néng)可(kě)以(yǐ)在(zài)光學(xué)元件設計(jì)的工作(zuò)波長(cháng)進(jìn)行測試，從而(ér)對光學(xué)元件(jiàn)基底，鍍膜(mó)獲得(dé)完(wán)整(zhěng)的評價(jià)。儀(yí)器具備(bèi)和傳統幹(gān)涉儀(yí)同等的精度(dù)，同時(shí)具備(bèi)更(gēng)大(dà)的(dí)動(dòng)態範圍以(yǐ)測試(shì)復雜麵形的光學(xué)元件。測(cè)試以雙程模(mó)式(shì)工作，兼容(róng)透(tòu)射(shè)與反(fǎn)射測(cè)量。

多(duō)波(bō)長(cháng)幹涉儀：

同一(yī)機(jī)台，多(duō)個波(bō)長

標配：625nm - 780nm - 1050nm

可(kě)選：UV - 400nm - 1100nm - 短波(bō)紅外

高動(dòng)態範圍：

> 20um PV

高度畸變(biàn)波前測試(shì)

高精(jīng)度(dù)：

精(jīng)度與(yǔ)幹(gān)涉儀(yí)同等

高(gāo)重復度，低噪聲

高(gāo)性(xìng)價比(bǐ)的幹涉儀(yí)解(jiě)決方(fāng)案(àn)

規範：

遵從ISO 5725 標(biāo)準(zhǔn)

兼容(róng)MetroPro 格(gé)式

兼容 ISO 10110 格式

用途：

表(biǎo)麵(miàn)麵(miàn)形測(cè)試

鍍膜(mó)（AR，介質(zhì)膜(mó)，金屬(shǔ)膜測試......）

窗(chuāng)片(piàn)，幹涉(shè)濾光片(piàn)測試(shì)

透(tòu)鏡(jìng)，非(fēi)平麵鏡測試

應用：

光學(xué)元(yuán)件(jiàn)研(yán)發製造(zào)

濾(lǜ)光(guāng)片及(jí)窗片製造

空(kōng)間及防(fáng)務(wù)

汽(qì)車(chē)工(gōng)業(yè)

激光器(qì)及其應(yīng)用(yòng)

光學(xué)元(yuán)件麵型(xíng)測(cè)量儀KALEO MultiWave技(jì)術(shù)指標：

光學元件麵(miàn)型測(cè)量儀KALEO MultiWave測(cè)試實(shí)例：

與Fizeau幹涉儀測試(shì)結(jié)果的(dí)比較

NBP-780濾(lǜ)光片測(cè)試。二者測(cè)量RWE的(dí)偏(piān)差(chà)小於(yú)40nm P-V

非(fēi)球(qiú)麵(miàn)鏡3-D麵(miàn)形

 單(dān)次測量(liáng)，無(wú)需空白透鏡(jìng)。可通(tōng)過扣除理想(xiǎng)曲麵(miàn)得知麵(miàn)形(xíng)殘(cán)餘誤差，從而(ér)獲(huò)知(zhī)非球(qiú)麵鏡的加工質量。

產綫(xiàn)設(shè)備監控(kòng)

通過對塑料，樹脂模壓(yā)光(guāng)學元件(jiàn)的直接測試，實時(shí)獲(huò)知(zhī)加工效(xiào)果(guǒ)，對模具(jù)狀態，工(gōng)件(jiàn)調(tiáo)整精度(dù)等作出實(shí)時評(píng)價(jià)。