ANDOR 的(dí)*新的(dí)iStar sCMOS 係列像(xiàng)高靈敏度(dù)瞬態(tài)探測器可提供(gōng)要求(qiú)高(gāo)分(fēn)辨(biàn)率(shuài)，高(gāo)幀頻(pín)以(yǐ)及(jí)納秒(miǎo)時(shí)間分辨(biàn)測試的解決方案
。2560×2160 分辨率的探測(cè)器(qì)廣泛(fàn)應(yīng)用(yòng)於時間分辨(biàn)實(shí)驗(yàn)的應用領域，例如等離(lí)子(zǐ)體分析
。做PLIF 實驗測(cè)試時，可滿足(zú)快(kuài)速瞬(shùn)態現象(xiàng)采集(jí)實(shí)驗(yàn)，提供多兆赫(hè)茲讀(dú)出速度(dù)，USB3.0 接口(kǒu)，以(yǐ)及(jí)配置一(yī)台完*集成(chéng)的，軟(ruǎn)件(jiàn)控製(zhì)的數字延(yán)時(shí)脈(mài)衝發(fā)生(shēng)器(qì)
。該係列探(tàn)測(cè)器可應用於各(gè)種復雜的(dí)試驗(yàn)中，可通(tōng)過(guò)軟件對時(shí)間和增益進(jìn)行(háng)控製(zhì)，二(èr)代(dài)及三代像(xiàng)增強(qiáng)器(qì)可(kě)配(pèi)合(hé)各(gè)種入(rù)射(shè)窗口光(guāng)陰極材料
。

• USB3.0 接(jiē)口：即插即用
• 550 萬(wàn)像(xiàng)素(sù)高分(fēn)辨(biàn)率sCMOS
• 50 幀每秒全(quán)幅幀頻，203 幀@512*512 ROI
• 內置(zhì)脈(mài)衝延(yán)時發(fā)生(shēng)器：功(gōng)能(néng)軟(ruǎn)件(jiàn)可控(kòng)
• 光學(xué)快(kuài)門：小於2ns 的真(zhēn)實光(guāng)學門寬(kuān)
• *低(dī)的插(chā)入(rù)延(yán)時：*低(dī)19ns
• 獨特(tè)PIV 模式(shì)：兩(liǎng)幅連(lián)拍(pāi)*小(xiǎo)間隔200ns
• IntelligateTM 微通道(dào)板(bǎn)與光(guāng)陰(yīn)極實現同步(bù)門控：紫外關斷比(bǐ)優於(yú)10-8:1
• 光陰極開關速(sù)率高(gāo)達500kHz：高速激光(guāng)實驗(yàn)中(zhōng)，增加信噪比(bǐ)
• 獨特的Crop 模(mó)式：專門的(dí)采(cǎi)集(jí)模式(shì)，實(shí)現(xiàn)*快的圖像采(cǎi)集(jí)速(sù)度
• GII 及GIII 像(xiàng)增(zēng)強(qiáng)器(qì)可選
• 熱電(diàn)製冷*低0° C：理(lǐ)想的(dí)低(dī)光應用(yòng)領域
• 實(shí)時(shí)控(kòng)製(zhì)：用(yòng)戶界麵實時采集優化(huà)
• 光陰極幹(gān)燥氣(qì)體吹掃端口：減小EBI，適用於微光測試(shì)領(lǐng)域(yù)
行業領*的(dí)影(yǐng)像(xiàng)采集速度

iStar sCMOS 係列IsCMOS 相(xiāng)機技術參(cān)數指(zhǐ)標(biāo)

附(fù)件(jiàn)選(xuǎn)項(xiàng)：
C 接口適配器，F 接口(kǒu)適配(pèi)器，水(shuǐ)冷(lěng)機
二(èr)代像增強器(qì)技術參數指(zhǐ)標：

三(sān)代像增(zēng)強器(qì)技術參(cān)數指標：