激光激光功率計探(tàn)頭原(yuán)理及校準

功(gōng)率(shuài)計探頭

激(jī)光(guāng)功率(shuài)計探頭原理(lǐ)

光電探(tàn)頭

光(guāng)電(diàn)二管原理(lǐ)：光電二(èr)管(guǎn)的(dí)核(hé)心(xīn)部分(fēn)是個PN 結，當(dāng)在PN 結(jié)加(jiā)上適(shì)當反(fǎn)向(xiàng)電(diàn)壓(yā)時(shí)，由於(yú)缺(quē)乏載流(liú)子， PN 結(jié)內無電(diàn)流通過。當光子(zǐ)照射在PN 結(jié)上時，電(diàn)子或空(kōng)穴擺脫束縛，在(zài)PN 結內形成(chéng)光生(shēng)載流子，光生(shēng)載流子在(zài)電(diàn)場(cháng)的作用下(xià)產(chǎn)生(shēng)漂(piāo)移(yí)而形成電流，電(diàn)流的(dí)大小(xiǎo)和入(rù)射光(guāng)的(dí)能量成(chéng)比例(lì)。

熱(rè)電(diàn)堆探頭

熱電(diàn)堆(duī)原理：熱電堆(duī)功(gōng)率計就是利用當(dāng)激光被探(tàn)頭表(biǎo)麵(miàn)的膜層吸收掉(diào)轉化(huà)成(chéng)熱量(liáng)，熱(rè)量向熱電偶傳遞並形成(chéng)溫度梯(tī)度場，熱電堆(duī)探頭內(nèi)外兩個節點由於(yú)溫度差(chà)產生(shēng)溫(wēn)差電動勢(shì)，電動(dòng)勢(shì)的大(dà)小與(yǔ)入(rù)射光轉化(huà)的熱量(liáng)成比例(lì)。

熱釋電探頭

熱(rè)釋(shì)電原理：當(dāng)某些晶體受熱(rè)時，晶體就會產生化現象，使晶體(tǐ)兩端產(chǎn)生化電(diàn)荷，在晶體的兩端(duān)鍍上(shàng)金(jīn)屬(shǔ)層，構成了一(yī)個電容(róng)器。則在溫度(dù)梯度(dù)作(zuò)用下(xià)，化的(dí)電荷(hé)集結(jié)在電(diàn)容器(qì)的(dí)兩端(duān)，產生電壓(yā)信號(hào)。電壓(yā)信號(hào)與(yǔ)探測器膜(mó)層吸收(shōu)光(guāng)轉化(huà)的熱(rè)量(liáng)形成(chéng)的溫(wēn)度(dù)梯度成正比(bǐ)。熱釋(shì)電(diàn)探頭(tóu)不(bù)適(shì)合(hé)探測連(lián)續或(huò)長脈寬(kuān)的激光，因(yīn)為電容(róng)器的(dí)存儲的(dí)電荷容易飽(bǎo)和。

BeamTrack

BeamTrack 原理(lǐ)：BeamTrack 可(kě)以(yǐ)探測功率，能量中(zhōng)心的位(wèi)置(zhì)，光(guāng)斑(bān)大小。BeamTrack 將由熱(rè)電偶串連起(qǐ)來(lái)的(dí)熱(rè)電堆再(zài)引(yǐn)出三(sān)個(gè)電(diàn)，從而可(kě)以分(fēn)別得到四個(gè)象限的電(diàn)壓值，根(gēn)據四個象(xiàng)限的(dí)電(diàn)壓(yā)信(xìn)號，可以(yǐ)計算到能(néng)量中(zhōng)心在四個(gè)象(xiàng)限的(dí)位置(zhì)。

以色列OPHIR 公司成(chéng)立(lì)於1976 年，擁有(yǒu)40 年(nián)的激(jī)光(guāng)功率(shuài)計，能(néng)量計(jì)測試(shì)設備的研(yán)發和生(shēng)產經驗。其產(chǎn)品種(zhǒng)類齊全(quán)；測試(shì)準確(què)，使(shǐ)用方便(biàn)，被(bèi)廣(guǎng)泛(fàn)應(yīng)用於(yú)科研，工(gōng)業(yè)和醫療等各領域(yù)。自2006 年收購了激(jī)光光(guāng)斑/ 光(guāng)束分析領域(yù)的(dí)美(měi)國SPIRICON 公(gōng)司後(hòu)，成為(wéi)激(jī)光(guāng)量測設備(bèi)供應商(shāng)。其(qí)產品通(tōng)過代理(lǐ)渠道(dào)銷往世界(jiè)各(gè)地(dì)多於35 個(gè)國(guó)家，其中大的(dí)市(shì)場(cháng)在美國，歐洲和(hé)日(rì)本(běn)。近(jìn)年(nián)來隨著先鋒科技在中(zhōng)國(guó)區(qū)不(bù)懈推廣，中國(guó)區(qū)也(yě)成為其大的(dí)市(shì)場之(zhī)一。高校科研院(yuàn)所及(jí)激(jī)光工廠(chǎng)隨處可見的OPHIR 功(gōng)率計也經(jīng)證明(míng)了這(zhè)一(yī)點。

Ophir 的校準(zhǔn)能力

對於激(jī)光(guāng)量測產(chǎn)品來講(jiǎng)，校準是為重要。為了保證(zhèng)您激(jī)光測量設(shè)備(bèi)的校(xiào)準，Ophir 采取(qǔ)了(liǎo)比別的廠家(jiā)更(gēng)多的措施(shī)。從膜層吸(xī)收(shōu)曲綫(xiàn)上，我(wǒ)們可以了(liǎo)解到(dào)隻(zhī)校(xiào)準一個波(bō)長是遠(yuǎn)遠不(bù)夠的。隻有(yǒu)Ophir 擁有(yǒu)全套的校準激(jī)光綫和(hé)一(yī)係列的在NIST 和(hé)PTB 校(xiào)準的探頭作為母(mǔ)探頭(tóu)。可以(yǐ)校準客(kè)戶要求(qiú)的波(bō)長或在要求波(bō)長附近給予(yú)高(gāo)精(jīng)度的(dí)校準(zhǔn)。更進(jìn)一步(bù)同(tóng)時使(shǐ)用NIST 和PTB 可追(zhuī)溯(sù)的(dí)波(bō)長(cháng)去核對(duì)校(xiào)準曲(qū)綫，必(bì)要(yào)時(shí)予以校正(zhèng)。除了(liǎo)校準波(bō)長這個(gè)因(yīn)素外，同(tóng)時(shí)還有(yǒu)許(xǔ)多有(yǒu)待校準的(dí)錯誤(wù)源(yuán)。比如探頭表麵(miàn)不同位(wèi)置處(chǔ)的非(fēi)綫(xiàn)性(xìng)的變化(huà)，脈衝頻率對(duì)熱釋(shì)電探頭的影響(xiǎng)等。我們(mén)在校準(zhǔn)的同(tóng)時，考(kǎo)慮了所(suǒ)有的可能引起(qǐ)校準(zhǔn)精(jīng)度的因素。