對於(yú)傳統的(dí)激光(guāng)器製(zhì)造商而(ér)言
，光束(shù)質(zhì)量(liáng)分析已(yǐ)經成(chéng)為標準技(jì)術。激光束的品質由以下參數(shù)定(dìng)義：衍射(shè)限倍(bèi)數(shù)因(yīn)子M2
，或者它的倒(dǎo)數K因(yīn)子。
M2或K因(yīn)子給(gěi)出了激光光束(shù)聚(jù)焦(jiāo)能力的理論測(cè)量(liáng)方法
，這(zhè)對(duì)評(píng)價(jià)不(bù)同應(yīng)用領(lǐng)域的(dí)光束(shù)好壞非常(cháng)重要(yào)。M2因子其(qí)物理(lǐ)實(shí)質(zhì)是激(jī)光光束(shù)與標(biāo)準基模(mó)高(gāo)斯(sī)光(guāng)束（TEM00）進行(háng)比較(jiào)
，反映實際激光(guāng)光束與(yǔ)基(jī)模(mó)高斯光(guāng)束的接近程(chéng)度。理(lǐ)想(xiǎng)的(dí)M2=1,實(shí)際(jì)測(cè)量的(dí)M2越(yuè)趨近(jìn)1
，說明(míng)激(jī)光(guāng)的聚焦能(néng)力越(yuè)強(qiáng)。

以色列(liè)Ophir公司收購了美國(guó)spiricon公司（麵陣式光(guāng)束質量分析儀）和美國(guó)photon公(gōng)司（狹縫(féng)掃描式(shì)光束質(zhì)量分析儀(yí)）
，為激光(guāng)M2分析提供了(liǎo)多種(zhǒng)不同的儀器
，可以隻(zhī)對不同(tóng)的激(jī)光器。目前業內的絕(jué)大多(duō)數(shù)激(jī)光器
，Ophir都可以(yǐ)提供(gōng)相應(yīng)的解決(jué)方(fāng)案。

M2測(cè)量原(yuán)理圖示

Spiricon公司(sī)M2-200s自(zì)動M2分析儀具有(yǒu)如下(xià)特(tè)點(diǎn)（麵陣(zhèn)式(shì)光(guāng)束質(zhì)量(liáng)分析(xī)儀(yí)）
1.測(cè)量速度快(kuài)
，2分(fēn)鐘(zhōng)內完(wán)成M2測(cè)量(liáng)；
2.*符合(hé)ISO測量標準；
3.采用的Ultracal基綫校(xiào)準(zhǔn)技術
，可(kě)獲得zui為的測(cè)量數據(jù)；
4.提(tí)供自動(dòng)衰(shuāi)減(jiǎn)調(tiáo)節(jié)
，使測(cè)量(liáng)更加(jiā)方便(biàn)；
5.適(shì)用於(yú)連續(xù)和(hé)脈衝(chōng)激(jī)光測量(liáng)；
6.采用折疊式鏡腔設計
，保證儀(yí)器體積小巧
，使用(yòng)方(fāng)便.

Spiricon公司(sī)推出(chū)的M2-200s自(zì)動M2分析儀(yí)是(shì)*一款(kuǎn)符合ISO標(biāo)準的M2測(cè)量設(shè)備(bèi)
，保持著在(zài)該領域(yù)的(dí)。測量(liáng)過(guò)程中(zhōng)
，固(gù)定的透鏡(jìng)和(hé)高速的(dí)自動(dòng)光學(xué)導軌(guǐ)使得(dé)相(xiāng)機可以(yǐ)快速的采集(jí)到從(cóng)近(jìn)場到遠場多個位置(zhì)的(dí)激(jī)光光斑(bān)
，測量，傳輸以及激光功率(shuài)衰減(jiǎn)全(quán)部由軟(ruǎn)件自(zì)動(dòng)控(kòng)製(zhì)。

M2-200s在工(gōng)作(zuò)過程中(zhōng)造(zào)束腰透(tòu)鏡和(hé)相機(jī)位(wèi)置固定(dìng)
，通過兩片(piàn)反(fǎn)光鏡在(zài)光學導軌上的自動(dòng)移動(dòng)
，相機就可(kě)以的捕捉到(dào)從近場(cháng)到遠(yuǎn)場(cháng)不同(tóng)位置的激(jī)光(guāng)光(guāng)斑(bān)
，再(zài)通過軟(ruǎn)件進(jìn)行(háng)數據(jù)分(fēn)析(xī)與計(jì)算
，從而得到(dào)M2值，發散角(jiǎo)，束(shù)腰大小等參數(shù)。

Spiricon采(cǎi)用了(liǎo)的Ultracal基(jī)綫校(xiào)準(zhǔn)技術(shù)
，從(cóng)而可以有效去除(chú)環境噪(zào)聲(shēng)
，得到zui為準(zhǔn)確的(dí)數(shù)據。

Photon公司的(dí)NanoModeScan
，具有以(yǐ)下(xià)特點（狹(xiá)縫掃描式(shì)光(guāng)束質量分析(xī)儀(yí)）：
1.可(kě)對(duì)大功率(shuài)激(jī)光光束進行(háng)M2分析(xī)
，而(ér)不需(xū)太多(duō)的衰(shuāi)減(jiǎn)設(shè)備；
2.全自動分(fēn)析；
3.配(pèi)置NanoScan 2 USB接口探(tàn)頭和NanoScan V2光束(shù)分析(xī)軟件
，在測量(liáng)M2的同時(shí)可以(yǐ)對(duì)光斑(bān)進行(háng)光(guāng)斑大(dà)小(xiǎo)，峰值中(zhōng)心，幾(jī)何(hé)中心等參(cān)數進(jìn)行分析(xī)；
4.配置(zhì)導(dǎo)軌，200mm和400mm焦距束腰生(shēng)成(chéng)鏡(jìng).