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TECHNICAL ARTICLES

技術(shù)文(wén)章(zhāng)

當前位(wèi)置(zhì):首(shǒu)頁技術文章(zhāng)Andorx射綫探(tàn)測方(fāng)案(àn)

Andorx射綫探(tàn)測方案

更新(xīn)時(shí)間:2018-04-17點擊次(cì)數(shù):4127

直接(jiē)和間(jiān)接(jiē)探測

針對(duì)不(bù)同(tóng)的(dí)x射綫應用,不管(guǎn)是影像(xiàng),還是(shì)光譜,Andor都(dū)可(kě)以(yǐ)提(tí)供(gōng)全麵的CCD探測(cè)係(xì)統。根(gēn)據(jù)應用和能量(liáng)不(bù)同(tóng),這些(xiē)係統(tǒng)可(kě)以放(fàng)置(zhì)在(zài)真空(kōng)內使用(yòng),或者通過(guò)法蘭和(hé)真(zhēn)空(kōng)腔(qiāng)相(xiāng)連,也(yě)可以是單(dān)獨(dú)使用。另(lìng)外(wài),如果(guǒ)您的(dí)應(yīng)用(yòng)需要對(duì)x射(shè)綫進(jìn)行(háng)間接探測,Andor 也可(kě)以提供(gōng)各種(zhǒng)光(guāng)纖耦合的CCD相機.
Andorx射綫(xiàn)探測方(fāng)案(àn)有益(yì)於如下各種應用(yòng):

  1. X射(shè)綫(xiàn)/中子斷層掃描

  2. X射綫光(guāng)譜

  3. X射綫顯(xiǎn)微

  4. X射綫光斑檢(jiǎn)測

  5. X射綫衍射(shè)

  6. X射(shè)綫(xiàn)平板印刷術

  7. X射綫(xiàn)地形學(xué)

  8. 等離(lí)子(zǐ)體(tǐ)研究

  9. 醫療(liáo)影(yǐng)像(xiàng)

湯(tāng)姆森(sēn)散射

X射綫可以大(dà)致可(kě)以分為(wéi)幾個範(fàn)圍(wéi),雖(suī)然幾個(gè)範(fàn)圍沒有嚴格清(qīng)晰(xī)的定(dìng)義(yì),但是大致可(kě)以(yǐ)如下(xià)分類(lèi):

  1. VUV 到XUV= 0.01 - 0.1 keV

  2. XUV 到 軟X射(shè)綫(xiàn) = 0.1 - 1 keV

  3. 軟x射綫(xiàn)到(dào)硬(yìng)x射(shè)綫(xiàn) = 1 - 10 keV

  4. 硬(yìng)x射(shè)綫 = 10 - 100 keV 

 電磁(cí)波及(jí)能(néng)量(liáng)

公式(shì)1:單位換(huàn)算(suàn)

直(zhí)接探測(cè)

在(zài)這類應用(yòng)中,相(xiāng)機的感(gǎn)光(guāng)芯片是(shì)直(zhí)接暴露在入射射(shè)綫中,這(zhè)些(xiē)射綫(xiàn)光子(zǐ)被芯(xīn)片中的靈敏(mǐn)的摻(chān)雜(zá)層(céng)所吸收(shōu),這樣就(jiù)產生幾(jī)個(gè)電子(zǐ)空穴對。和間(jiān)接探(tàn)
測(cè)及傳統(tǒng)的膠片成像(xiàng)相(xiāng)比(bǐ),這種方法有(yǒu)如(rú)下優(yōu)點(diǎn):

  1. 更高(gāo)的量子效(xiào)率

  2. 單光(guāng)子的靈敏度,且(qiě)無(wú)需采(cǎi)用EMCCD或(huò)者ICCD

  3. 更好的空間及能(néng)量分(fēn)辨率

直接(jiē)探測(cè)相機(jī)中的量子效率

量子效率(shuài)是(shì)光子(zǐ)被CCD探(tàn)測到的可能(néng)性概率(shuài)。然而(ér)我(wǒ)們要(yào)記住(zhù),在對x射(shè)綫束流(liú)進(jìn)行直(zhí)接探測(cè)時(shí),一個入射光子(zǐ),能夠產生(shēng)幾個光(guāng)電子(zǐ),這樣(yàng)就可(kě)以(yǐ)達到單(dān)光子的(dí)靈敏(mǐn)度。光(guāng)電子產生的數量,和(hé)射(shè)綫(xiàn)的能量有關(guān),參見公(gōng)式2.

公式2: 每個光(guāng)子所(suǒ)能產生(shēng)的光(guāng)電(diàn)子(zǐ)
直接(jiē)探(tàn)測中,每個像素所能(néng)產生的(dí)光(guāng)電子(zǐ)數(shù)量=x射(shè)綫光子能(néng)量/3.65
下(xià)圖(tú)所示,是(shì)幾款直接(jiē)探(tàn)測(cè)CCD的量(liáng)子(zǐ)效(xiào)率(shuài)曲(qū)綫(xiàn)。

FI 是前照明的(dí)芯片(piàn),FI-DD表示(shì)深度(dù)摻雜的(dí)選項(xiàng),和前(qián)照(zhào)的(dí)芯(xīn)片(piàn)相(xiāng)比(bǐ),這個選項對於硬(yìng)x射(shè)綫有(yǒu)更好的(dí)響(xiǎng)應(yīng)。BN是(shì)背(bèi)照明(míng)的(dí)芯(xīn)片(piàn),隻(zhī)是沒有(yǒu)增透膜(和BV選項(xiàng)恰(qià)恰(qià)相(xiāng)反),對於(yú)軟x射綫(xiàn)和(hé)中(zhōng)x射綫有(yǒu)更(gēng)好的(dí)響(xiǎng)應(yīng)。和前照明的(dí)芯片相(xiāng)比(bǐ),BN選項除了(liǎo)有更高(gāo)的(dí)響應(yīng)外,BN選項對於芯片的保護(hù)有大幅提高的作用,可以有(yǒu)效防(fáng)護因為過(guò)飽和(hé)所(suǒ)造成(chéng)的(dí)芯片(piàn)老化(huà)。對於直接探測(cè),我們推薦(jiàn)BN選(xuǎn)項的芯片。
CCD相(xiāng)機直(zhí)接探測的優(yōu)缺點(diǎn):

 

優(yōu)點(diǎn)

缺(quē)點

                        空(kōng)間分辨率(shuài)更好              

        單光子(zǐ)的靈敏度(dù) 

                  可以實現能量(liáng)分(fēn)辨          

                                 好的(dí)量子效(xiào)率(shuài) 響(xiǎng)應綫(xiàn)性                    

               
            高的動態範(fàn)圍(wéi) 間(jiān)接(jiē)探測(cè)

對於>20keV的射綫,不(bù)能(néng)探測

芯片大小受(shòu)限(xiàn)(典(diǎn)型值為25*25mm)

芯片會逐(zhú)漸損壞

 

間(jiān)接探(tàn)測(cè)


當您需(xū)要(yào)測量硬x射綫,並且有如下要求(qiú)時(shí):(甚(shèn)至(zhì)在大(dà)的縮(suō)比光(guāng)錐情(qíng)況(kuàng)下(xià),也需要單光子的靈敏度(dù)(EMCCD是(shì)更好的選項))

  1. 量(liáng)子(zǐ)效(xiào)率(shuài)好(hǎo),且能延(yán)伸(shēn)至硬(yìng)x射綫範圍(wéi)

  2. 大麵(miàn)積(jī)(通過(guò)縮比光錐(zhuī))

  3. 更高能(néng)量時(shí),需要(yào)高的(dí)動(dòng)態(tài)範圍

  4. 需要(yào)對CCD進行(háng)防(fáng)護時

直接(jiē)探測用CCD相機(jī),是(shì)利用(yòng)在光(guāng)錐前(qián)端麵的熒(yíng)光塗(tú)層(céng),把x射綫(xiàn)轉(zhuǎn)換(huàn)成可見(jiàn)光進行探(tàn)測(cè)。對於(yú)間接探測(cè)用(yòng)CCD,它的(dí)主要性能(néng),比如量(liáng)子(zǐ)效(xiào)率(shuài),空間(jiān)分辨率(shuài)等等,取(qǔ)決於所選熒(yíng)光屏(píng)的(dí)參數,比如,屏的(dí)厚度,化(huà)學成分(fēn)以及顆粒大(dà)小(xiǎo)等。
由Andor供(gōng)應商(shāng)提(tí)供的(dí)*的熒光材料(liào)沉(chén)積方(fāng)法(fǎ),用於間(jiān)接(jiē)探測(cè)所用的光纖麵(miàn)板(bǎn)前(qián),可(kě)以(yǐ)達(dá)到(dào)其的分(fēn)辨(biàn)率(shuài):和傳統的批量沉(chén)積方(fāng)法相比,分(fēn)辨(biàn)率(shuài)可(kě)以提(tí)高(gāo)四倍(bèi)。量(liáng)體裁衣,能夠(gòu)良好的匹配您(nín)的應用。

 

示例(lì):用於光(guāng)譜探(tàn)測的光(guāng)纖麵板,帶(dài)GdO熒光塗(tú)層

光纖麵板(bǎn)鍍(dù)了熒(yíng)光塗(tú)層後,能夠(gòu)非常好的(dí)保護芯片避免因為(wéi)x射綫(xiàn)而老化。通(tōng)過改善熒光(guāng)屏的空(kōng)間(jiān)分辨率(shuài),再用(yòng)EMCCD來(lái)提高靈敏度(dù),對(duì)於(yú)5keV以(yǐ)下(xià)的(dí)能(néng)量,就(jiù)能(néng)進行(háng)卓(zhuó)有成(chéng)效(xiào)的(dí)間接探(tàn)測。

 

右圖(tú)所(suǒ)示(shì),加(jiā)塗了熒(yíng)光層(céng)的光(guāng)纖麵(miàn)板CCD,對於入(rù)射光(guāng)子的(dí)探(tàn)測
效(xiào)率(shuài),係統(tǒng)增(zēng)益有了大幅(fú)提高(gāo)。所謂(wèi)的(dí)係(xì)統增(zēng)益,是指(zhǐ)對(duì)於(yú)每個入(rù)射射綫(xiàn)光(guāng)子,係(xì)統所能(néng)測試到的光(guāng)電子(zǐ)。這(zhè)裏(lǐ)的(dí)係統增益,也(yě)和(hé)熒光塗層的類型(xíng),厚(hòu)度(dù)及顆粒大小(xiǎo)有關。也(yě)與CCD芯(xīn)片的(dí)量(liáng)子效(xiào)率和光(guāng)纖麵板有關。

麵所(suǒ)說(shuō)的(dí)例子,是(shì)指(zhǐ)在1:1光(guāng)纖(xiān)麵板的塗(tú)層。熒光(guāng)塗層優化(huà)用於5-25keV的(dí)能(néng)量,其轉(zhuǎn)換(huàn)峰(fēng)值在(zài)15keV。 對於大(dà)麵積的,縮比的(dí)光纖錐,係(xì)統增(zēng)益自然會(huì)下(xià)降,這時,可(kě)以(yǐ)采(cǎi)用(yòng)EMCCD的技術來(lái)把這(zhè)種(zhǒng)稍(shāo)高(gāo)高於噪聲水(shuǐ)平的弱(ruò)信(xìn)號(hào)進行放(fàng)大,而讀(dú)出速度(dù)可(kě)以達到幾MHz,這對於(yú)快(kuài)速(sù)的斷(duàn)層(céng)掃描(miáo)類(lèi)的應(yīng)用非常適(shì)合(hé)。


間(jiān)接探(tàn)測(cè)的(dí)優(yōu)缺點(diǎn)

 

優點

缺(quē)點

高動(dòng)態(tài)範圍        
EMCCD兼(jiān)容-單(dān)光(guāng)子靈敏度 
大(dà)靶(bǎ)麵縮(suō)比(bǐ)光錐 
CCD芯片被(bèi)光纖麵板保護 
較寬(kuān)的(dí)光(guāng)子能量(liáng)覆(fù)蓋(gài)範(fàn)圍

低(dī)空(kōng)間(jiān)分辨率(shuài)
低的(dí)能量(liáng)分辨率

 

 


EMCCD在(zài)X射綫(xiàn)探(tàn)測(cè)中開創性(xìng)的應(yīng)用(yòng):
在x射綫間接(jiē)探(tàn)測(cè)中,開創(chuàng)性(xìng)的(dí)方(fāng)法之(zhī)一(yī),就(jiù)是一代(dài)的(dí)光纖(xiān)耦合(hé)的(dí)EMCCD在其(qí)中的應(yīng)用。通(tōng)過大(dà)比(bǐ)例的(dí)縮比(bǐ)光(guāng)纖(xiān),可以實(shí)現(xiàn)單(dān)光子(zǐ)的靈敏度及(jí)幾MHz的讀出(chū)速度。

Andor X射綫應用(yòng)相(xiāng)機

 

 

編號(hào)

 

描述(shù)

 

直接探測/間接探(tàn)測

 

DO

 

耦合(hé)安裝在真(zhēn)空外(wài)

 

直接探(tàn)測+間(jiān)接探(tàn)測

 

DX

 

真(zhēn)空腔(qiāng)內(nèi)使用

 

直(zhí)接探(tàn)測+間接(jiē)探(tàn)測

 

DY

 

獨立(lì)使(shǐ)用

 

直(zhí)接(jiē)探測+直(zhí)接探(tàn)測(cè)

 

DV

 

VUV/XUV(到120nm) MgF2 窗(chuāng)口

 

直接探(tàn)測

 

DF

 

光纖麵板(bǎn)帶(dài)熒光(guāng)塗層,幾(jī)MHz讀(dú)出,(EMCCD可(kě)用(yòng))

 

間接(jiē)探測(cè)

 

Andor 提供一(yī)係列(liè)的CCD和(hé)EMCCD相(xiāng)機(jī),可以用於直接(jiē)和間(jiān)接(jiē)探測,同(tóng)時具(jù)有光譜(pǔ)和(hé)影像類(lèi)的(dí)芯片格式(shì)。多個相(xiāng)機(jī)設計平台(tái),可以適(shì)用於不同種類(lèi)和(hé)尺寸(cùn)的(dí)芯片(piàn),從(cóng)128*128的EMCCD,到(dào)2K*2K的CCD. Andor針(zhēn)對不(bù)同的(dí)實驗研發了各種x射(shè)綫(xiàn)相機,係統包括(kuò)獨立使(shǐ)用的相機,真(zhēn)空腔耦合(hé)的相機,或(huò)者真空腔內使用的相機(jī)。


應用案例研究(jiū)

射(shè)綫激光器(qì)研發(fā)


貝爾法(fǎ)斯特女(nǚ)王大學的等離(lí)子(zǐ)體(tǐ)與激(jī)光反應物理(lǐ)研究(jiū)分(fēn)部(bù)的(dí)研究(jiū)人員(yuán),在實驗中采用了x射(shè)綫相機。 其研(yán)究重(zhòng)點包(bāo)括:

  1. 激光誘(yòu)導(dǎo)等(děng)離(lí)子體(tǐ)(0.05-1KeV)

  2. X射(shè)綫結(jié)晶學(1KeV左右)

  3. X射(shè)綫(xiàn)激光研(yán)究(0.06-0.3keV)

  4. X射(shè)綫(xiàn)光譜(0.04-0.4keV)

研究(jiū)團隊(duì)使(shǐ)用了多(duō)個(gè)X射綫CCD相(xiāng)機(jī)。在如瑟夫阿(ā)普(pǔ)爾(ěr)頓(dùn)實(shí)驗(yàn)室利用(yòng)Vulcan玻璃激(jī)光(guāng)器裝(zhuāng)置,團隊所(suǒ)從事的一個研究(jiū)領域,就是研發(fā)x射(shè)綫激光(guāng)器(qì)。
研究(jiū)所主要(yào)采用的芯片為1024*2048個(gè)像素(sù),13um大(dà)小,背照明的量子效率。這款(kuǎn)相(xiāng)機的量(liáng)子(zǐ)效率很(hěn)高,分辨(biàn)率(shuài)非常理(lǐ)想,並且靶(bǎ)麵很大。相(xiāng)機采用(yòng)開口設計,直(zhí)接(jiē)采用(yòng)法蘭(lán)連接(jiē)到真空腔。同時使用(yòng)平場(cháng)譜儀和CCD相(xiāng)機對(duì)射綫激光器光(guāng)束進(jìn)行(háng)分析。和相(xiāng)機連(lián)用的(dí)還有x射(shè)綫光學器(qì)件(jiàn),把(bǎ)x射綫激(jī)光(guāng)器(qì)成像到出口(kǒu),從而(ér)實現(xiàn)激(jī)光器光(guāng)斑的(dí)分析。

 

X射綫激光光(guāng)斑

另(lìng)外一(yī)個(gè)研究領域,是對噴(pēn)射電(diàn)離氣體(tǐ)的x射(shè)
綫光譜(pǔ)分(fēn)析(xī)。在(zài)女王(wáng)大學,采用低溫等離子(zǐ)體(tǐ)
(0.03-0.08keV)來對(duì)成像x射(shè)綫鏡(jìng)
片(piàn)作反(fǎn)射率特(tè)性(xìng)分(fēn)析。把Andor DO420相(xiāng)機
耦(ǒu)合(hé)到(dào)平(píng)場光譜儀上(shàng),等離子(zǐ)體及(jí)x射綫反射
鏡(jìng)的反射光譜就可(kě)以得(dé)到(dào)。通(tōng)過把等離(lí)子(zǐ)源(yuán)所(suǒ)
造成(chéng)的(dí)反(fǎn)射光譜(pǔ)分開(kāi),就(jiù)可以(yǐ)得到波長所(suǒ)導(dǎo)致
的(dí)反(fǎn)射率(shuài)變化。

本圖片(piàn)由(yóu)貝爾(ěr)法斯(sī)特,女(nǚ)王(wáng)大學,等(děng)離(lí)子體(tǐ)與

激光(guāng)反應(yīng)物(wù)理研究(jiū)分部的Lewis教授(shòu)及(jí)其團隊

提(tí)供。

 

高能激光(guāng)反(fǎn)應實驗


在如(rú)瑟夫阿(ā)普爾頓試驗(yàn),在Vulcan和ASTRA這兩(liǎng)個激(jī)光器(qì)裝置(zhì)上(shàng),高能激光(guāng)相(xiāng)互作用的(dí)試(shì)驗(yàn)大(dà)量采用了基於(yú)CCD的探測器。他(tā)們包(bāo)括:

  1. 在(zài)(2-6keV)範(fàn)圍(wéi)的(dí)單光子能量(liáng)測(cè)量

  2. 0.5-3Kev範(fàn)圍(wéi)內的(dí)共(gòng)振綫(xiàn)譜測量

  3. 50-500eV範圍(wéi)內的軟X射綫探測

  4. 可見(jiàn)及(jí)IR範圍內(nèi)的探測(IR到1.2um)

     

     要想實現(xiàn)盡可能多的數據收集及(jí)盡可能寬(kuān)的(dí)測量(liáng)範(fàn)圍(wéi),有(yǒu)必要要求(qiú)CCD探測(cè)器有(yǒu)高的(dí)動(dòng)態(tài)範圍(12-16bit)和更多的像素(300K-2M像素)。不僅(jǐn)需要動態範圍,還需(xū)要(yào)高(gāo)的靈敏度(dù)和低的噪(zào)聲水平,這點非常必要(yào),尤其是(shì)信噪比的問題關(guān)係(xì)到測量團(tuán)隊(duì)的物(wù)理限(xiàn)。

     

zui近若幹(gān)年,因為(wéi)CCD芯片(piàn)半(bàn)導體(tǐ)製冷技術的(dí)引入(rù),降(jiàng)低(dī)了暗(àn)噪(zào)聲(shēng),以(yǐ)及(jí)A/D轉換(huàn)性能的提(tí)升,這些都(dū)大的幫助相(xiāng)機得(dé)到意想不(bù)到的探測(cè)性能。

截止(zhǐ)目(mù)前(qián),已經有十多台(tái)相機在Vulcan和Astra裝(zhuāng)置上使用(yòng),所采(cǎi)用(yòng)的芯片為1024*256。由(yóu)於采(cǎi)用(yòng)這些獨(dú)到(dào)的(dí)CCD探測器(qì)所(suǒ)衍生的很多(duō)新(xīn)技術(shù),幫助我們有效對(duì)超短脈衝等離子體(tǐ)的相(xiāng)互(hù)作用(yòng)進(jìn)行研(yán)究。
由(yóu)於(yú)更大的CCD陣(zhèn)列(liè)探測(cè)器的引(yǐn)入,以及(jí)更經(jīng)濟(jì)的處理(lǐ)能(néng)力(lì),數字(zì)化(huà)的數據(jù)采(cǎi)集技(jì)術(shù)在(zài)將來(lái)的試驗分(fēn)析(xī)中,會發(fā)揮更(gēng)主導(dǎo)的作用。


感謝D. Neely博(bó)士(shì)牛(niú)津(jīn)郡,如(rú)瑟夫(fū)阿(ā)普爾(ěr)頓(dùn)試(shì)驗室,中心(xīn)激光(guāng)裝置(zhì)

顯微成(chéng)像

基於(yú)EMCCD的單光(guāng)子發射顯微(wēi)係統(tǒng) I-125(碘125),用於小(xiǎo)動物成像.一(yī)直有人在(zài)努(nǔ)力(lì)得(dé)到小(xiǎo)動物的(dí)顯微(wēi)成像。采用I-125作為(wéi)跟蹤試(shì)劑變(biàn)得越來越(yuè)普(pǔ)遍。

孟玲(líng),密(mì)歇(xiē)根(gēn)大(dà)學(xué)的核(hé)工(gōng)程與(yǔ)放射(shè)科學(xué)學院博士,聯(lián)合(hé)安納堡(Ann Arbor)的V. A.醫(yī)療中心,和位(wèi)於(yú)密歇根州大溪地(Grand Rapid)的溫(wēn)安洛(Van Andel)研(yán)究(jiū)所的(dí)研究人(rén)員,采用I
-125作(zuò)標記的抗(kàng)體(tǐ),縮氨酸(suān)和其他(tā)成分(fēn)的(dí)合(hé)成物作為發(fā)光(guāng)跟蹤劑,來(lái)進行各種(zhǒng)癌症的分(fēn)析(xī)檢(jiǎn)測(cè)以(yǐ)及治(zhì)療(liáo)用放(fàng)射性(xìng)藥品的(dí)研究(jiū)。

I-125通(tōng)過捕(bǔ)獲電子而衰減。I-125衰(shuāi)減的(dí)三個(gè)zui高的(dí)光子(zǐ)發(fā)射概率為(wéi):27.5keV時為76%,31keV時(shí)為13%,35keV時(shí)為(wéi)7%,其半衰期(qī)為60.14天。低(dī)帶隙(xì)能(néng)量和(hé)長(cháng)半(bàn)衰(shuāi)期(qī)這(zhè)兩個(gè)特(tè)點(diǎn),使(shǐ)其(qí)非常有利於單(dān)光(guāng)子(zǐ)成像端(duān)麵掃描計算(suàn)成像(Single Photon Imaging Computed Tomography:SPECT)。

  • 因(yīn)為(wéi)所(suǒ)需光子能(néng)量(liáng)比(bǐ)較低,就(jiù)可(kě)以非常(cháng)準確(què)的(dí)進行光子耦合和(hé)探測(cè)。
  • 成(chéng)像空間分辨(biàn)率有可(kě)能達(dá)到小於100um級(jí)別(bié)。

 

zui近,他(tā)們又開(kāi)始(shǐ)研(yán)發新一(yī)代SPECT技術(shù),以期對射綫(xiàn)光(guāng)子進行快(kuài)速(sù),高(gāo)靈(líng)敏(mǐn)度的(dí)探(tàn)測。其所(suǒ)采用(yòng)的相機(jī)就是Andor光纖(xiān)耦(ǒu)合(hé)的EMCCD(DF-897-FB)

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